GET CONTROL 手持式測試儀E84 HHT是專為半導(dǎo)體 300mm 晶圓廠設(shè)計的便攜式 E84 接口測試工具,聚焦于 E84 標(biāo)準(SEMI E84,晶圓盒傳輸接口協(xié)議)的快速故障診斷與維護。
內(nèi)置符合 E84 標(biāo)準的紅外收發(fā)器
DB-25 公頭(有源)和 DB-25 母頭(無源)端接
續(xù)航:自帶充電電池
存儲:SD閃存卡接口
接口:RS-232 串行通信接口
尺寸:9.3英寸×4.9英寸×1.6英寸(236毫米×125毫米×41毫米)
可靠性:高

實時信號可視化:內(nèi)置GCI E84 DLD 數(shù)據(jù)記錄器與RJ-11 光收發(fā)器,實時顯示 E84 通信信號(如 FOUP 加載 / 卸載指令)的時序圖,支持模擬電壓(DC 電平)與電流的動態(tài)測量,精準捕捉導(dǎo)致接口故障的信號毛刺(如 OC 門邏輯異常)。
自動化測試流程:集成E84 模擬器同款標(biāo)準測試套件,支持一鍵執(zhí)行負載(Load)/ 卸載(Unload)循環(huán)測試,自動提示操作步驟(如 “請插入 FOUP”)并同步倒計時,還原設(shè)備驗收測試環(huán)境,確?,F(xiàn)場排查與研發(fā)標(biāo)準一致。
數(shù)據(jù)存儲與分析:SD 卡接口支持測試結(jié)果本地存儲(ASCII 文本 + 二進制格式),兼容 GCI E84 分析軟件,可導(dǎo)出至 PC 生成專業(yè)報告,便于歷史數(shù)據(jù)追溯與批量問題分析。
極端環(huán)境適應(yīng)性:電池供電(無外接電源依賴),支持產(chǎn)線現(xiàn)場離線測試;防塵抗振設(shè)計,適應(yīng)晶圓廠潔凈室環(huán)境;操作界面簡潔,支持單手握持,降低工程師疲勞。
應(yīng)用場景:晶圓廠產(chǎn)線維護、設(shè)備調(diào)試與驗收、遠程故障支援等。
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