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產(chǎn)品介紹
該NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其硅探測器，準確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實時數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測量功能等特征，且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作，非常適合于對UV、VIS和NIR激光進行分析。
性能特點
- 位置和光束大小達到亞微米級精度
- 易于使用的集成軟件包
- 一個軟件包中包含單個和多個光束分析標準
- 可軟件控制的掃描速度（更新率）
- 采用峰值-連接算法用于脈沖光束測量
- USB2或PCI接口和數(shù)字探頭控制
- 12位數(shù)字化信號
- 采用ActiveX自動化與其他軟件包通信
- 可選硅和鍺掃描頭的功率計
- 可提供硅、鍺和熱釋電探測器
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)地：美國
傳感器類型：Silicon
光譜范圍：190-1100 nm
狹縫尺寸：1.8 µm
孔徑尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 µm - 2.3 mm
掃描頭尺寸：83 mm
功率范圍：10 nW - 10 W
通信：USB 2.0
軟件：NanoScan Standard
兼容的光源：CW, Pulsed >25 kHz
滬公網(wǎng)安備31011302006898號
