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45° 時(shí)的單面反射通常用于對(duì)激光光束進(jìn)行取樣,以進(jìn)行輪廓測(cè)量或功率或能量監(jiān)測(cè)。在 45° 時(shí),單個(gè)表面對(duì) S 偏振分量的反射率是 P 偏振分量的 10 倍以上。根據(jù)激光偏振成分或穩(wěn)定性的不同,這種取樣方式可能會(huì)提供非常誤導(dǎo)和不可靠的測(cè)量結(jié)果。(BT-I-YAG 在 1064 nm 波長(zhǎng)的兩個(gè)表面都進(jìn)行了 A/R 涂層,因此兩個(gè)偏振的反射率相等,均為 0.5 %)。在波長(zhǎng)遠(yuǎn)低于 1064 nm 的其他波長(zhǎng)上,上述討論同樣適用)。任何任意的偏振分量都可以分解成等效的 S 和 P 分量。通過(guò)免費(fèi)的采樣表面,任何給定的分量都會(huì)作為 S 偏振反射一次,作為 P 偏振反射二次。因此,使用兩個(gè)表面時(shí),所有偏振分量的總反射能量是 S 偏振反射率和 P 偏振反射率之和。這使得采樣光束的 S 和 P 分量與原始光束完全相同。Beam Tap II 使用兩個(gè)反射面,使兩個(gè)反射面正交。標(biāo)準(zhǔn) Beam Tap I 后表面在 400 至 700 nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)使用 AR 涂層。反射光學(xué)器件產(chǎn)生的 6 mm偏移量。輸出光束的偏轉(zhuǎn)角小于 0.007°。平面的后表面經(jīng)過(guò) AR 涂層處理,以更大限度地提高主光束的通率。標(biāo)準(zhǔn) Beam Tap II 后表面的 AR 涂層適用于 400 至 700 nm 波長(zhǎng)。YAG 版本的兩個(gè)表面都有 AR 涂層,波長(zhǎng)為 1064 nm。Beam Tap II 采樣反射與波長(zhǎng)的關(guān)系從紫外到紅外,S 和 P 反射率都幾乎恒定在 0.05 %。
單面極化問(wèn)題
用于均衡 S 偏振和 P 偏振的雙面反射器
兩個(gè)反射面正交
等效 S 和 P 反射偏振
通過(guò)光束抽頭的光束路徑
光束分路器反射與波長(zhǎng)恒定在 0.05 %
SP90135:BT-I;光束采樣系統(tǒng),單面, 1 UVFS 立方體,400 至 700 nm
SP90133:BT-II;光束抽頭光束采樣系統(tǒng),雙表面,2 個(gè) UVFS 立方體,400 至 700 nm
SP90173:BT-I-YAG;光束抽頭光束采樣系統(tǒng),單面,1 BK7 立方體,1064 nm
SP90172:BT-II-YAG;光束抽頭光束采樣系統(tǒng),雙表面,2 個(gè) BK7 立方體,1064 nm
產(chǎn)地:美國(guó)
部件號(hào):SP90135
波長(zhǎng):400 至 700 nm
反射率:入射光束的 4 % 和 0.16 %
透明孔徑:Ø 17.5 mm
連續(xù)波損傷閾值:1 MW/cm²
脈沖波損傷閾值:1 MJ/cm2
安裝:C 安裝螺紋
表面:?jiǎn)蚊妫? 立方體
光學(xué)材料:UVFS

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